掃描電子顯微鏡SEM檢測分析項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)及樣品要求

957次 2024.11.18

　　掃描電子顯微鏡SEM檢測分析是繼透射電鏡TEM之后發(fā)展起來的一種電子顯微鏡。掃描電子顯微鏡的成像原理和光學(xué)顯微鏡或透射電子顯微鏡不同，它是以電子束作為照明源，把聚焦得很細(xì)的電子束以光柵狀掃描方式照射到試樣上，產(chǎn)生各種與試樣性質(zhì)有關(guān)的信息,然后加以收集和處理從而獲得微觀形貌放大像。


　　中科檢測開展掃描電子顯微鏡SEM檢測分析服務(wù)，可為高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物等產(chǎn)品提供專業(yè)的SEM能譜檢測、定性分析、半定量分析、元素分析等服務(wù)。


　　掃描電子顯微鏡SEM檢測分析項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)


　　檢測項(xiàng)目


　　SEM能譜檢測、定性分析、半定量分析、元素分析等。


　　檢測標(biāo)準(zhǔn)


　　GB/T35099-2018微束分析掃描電鏡-能譜法大氣細(xì)粒子單顆粒形貌與元素分析


　　GB/T17359-2012微束分析能譜法定量分析


　　GB/T15244-2013微束分析硅酸鹽玻璃的定量分析波譜法及能譜法


　　DB44/T1215-2013利用掃描電子顯微術(shù)和X射線能譜法表征單壁碳納米管的特性


　　掃描電子顯微鏡SEM檢測分析樣品要求


　　一、制樣說明


　　1、粉體樣品，常規(guī)粉末直接粘到導(dǎo)電膠上測試；


　　2、液體樣品，測試?yán)蠋煾鶕?jù)樣品要求及實(shí)驗(yàn)室條件，隨機(jī)選擇滴到硅片或鋁箔上；


　　3、薄膜或塊體，請標(biāo)明測試面，如需測試截面，請自行自備截面或提前說明截面制備方式。


　　二、樣品要求


　　粉末、液體、薄膜、塊體均可測試，粉體樣品大概10mg，塊體樣品要求長寬≤1cm，厚度≤1cm，樣品質(zhì)量不超過200g；


　　混凝土，珊瑚沙，氣凝膠等需要抽真空時(shí)間非常長的樣品尺寸請盡可能直徑≤5mm，厚度≤5mm；


　　需要脆斷的樣品，尺寸需要≥2*2cm，厚度＜0.5cm，較厚的樣品建議尺寸準(zhǔn)備大些；


　　要求樣品無毒、無放射性、干燥無污染、熱穩(wěn)定性好、耐電子束轟擊。


　　三、注意事項(xiàng)


　　1、樣品含水，濕潤是不能做SEM的；


　　2、易分解樣品需明確分解條件（如溫度等），若樣品極易分解可能不能安排測試，因?yàn)榉纸夂螽a(chǎn)生物質(zhì)可能對測試儀器造成影響；


　　3、水凝膠等易吸潮樣品寄樣前請先確認(rèn)樣品暴露4-5h內(nèi)是否會(huì)出現(xiàn)明顯的吸潮現(xiàn)象，測試過程中樣品吸潮會(huì)影響拍攝的同時(shí)也會(huì)對儀器造成損傷；


　　4、導(dǎo)電性不好（如半導(dǎo)體金屬氧化物、生物樣品及塑料、陶瓷等）或強(qiáng)磁樣品建議選擇噴金，不噴金可能會(huì)影響拍攝效果。


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